独特创新的全聚焦方式（TFM）

显示超微细节的TFM

（全聚焦方式）图像 OmniScan X3探伤仪所提供的实时 全聚焦方式（TFM）包络处理功能， 高达1024 × 1024的网格分辨率， 以及色彩鲜亮的显示屏，可使其全聚 焦方式（TFM）图像呈现出极为清晰 的细节。得益于较高的分辨率，图中 显示的缺陷格外鲜明清晰。

提前确认覆盖区域
声学影响图（AIM）工具可以基于用 户具体的模式、设置和模拟反射体， 即刻提供灵敏度的可视化模型。
这个工具可以为用户显示声波组的效 果（在TFM模式下），使用户看到灵 敏度消失的位置，并对扫查计划进行 相应的调整。

探测到早期的高温氢致
（HTHA）缺陷 仪器的成像功能转化为可以好、更精细地探测到 高温氢致（HTHA）缺陷的性能，从而可使用户在损伤形 成早期这个重要的时期探测到缺陷。

便于解读缺陷和定量缺陷
可以最多显示4个不同角度的TFM模式图像。这种图像信息可使用户更加充满信心地识别缺陷和确定缺陷的深度。

改进的相控阵技术

提升效率的创新特性
脉冲重复频率是 OmniScan MX2探伤仪的2倍。
单独的衍射时差（TOFD）菜单，加快了工作流程。
改进的快速相控阵校准， 减轻了操作人员的挫败感。
800%的高波幅范围， 减少了重新扫查的需要。
机载双晶线阵、双晶矩阵探头的支持性能，加速了创建设置的过程。

与现有的文件和设置相兼容
与现有的探头和扫查器兼容。
与MX2/SX仪器的数据文件兼容：具有比较新旧数据的功能，并可以监控随着时间的推移而产生的变化。
与MX/MX2/SX仪器的设置兼容，有助于程序达到合规要求。
与现有的文件 和设置相兼容。

性能可靠，操作简便

迅速地投入到检测工作中
机载扫查计划、改进的快速校准和简化的用户界面，省去了一些步骤，从而有助于确保在很短的时间内完成 检测的设置工作。
如果您是OmniScan MX2仪器的用户，您可以从现有的仪器迅速地过渡到OmniScan X3仪器。如果您还不太了解相控 阵超声检测或全聚焦方式（TFM），您可以通过OmniScan X3探伤仪轻松地学习这些知识。

检测团队中的主力成员
OmniScan X3探伤仪所提供的功能有助于用户完成检测工作。这些功能可以在以下应用中大显身手：焊缝检 测、管线和管道的检测、耐腐蚀合金的检测、腐蚀成像、高温氢致缺陷（HTHA）的检测、初期裂纹的探测、复合材料的检测、缺陷成像等等。

具备应对严峻挑战的能力
无需停歇，持续扫查。
最大25 GB的文件容量，可使用户持续扫查大型组件而无需停歇。

青出于蓝胜于蓝的OmniScan仪器

符合IP65评级标准，防雨防尘。

冷却风扇在无需打开仪器的情况下可由用户自己更换，更换风扇后也无需进行校准。

机载GPS，可记录采集数据的位置。

可通过无线方式连接到奥林巴斯科学云系统，因此用户可以在新软件发行之后尽快下载软件。

原文标题：提供全聚焦方式（TFM）的OmniScan X3超声波相控阵探伤设备